x
Еще по теме
pdf

Цифровые микроскопы

Цифровые микроскопы
Производитель TECHKON GMbH

Цифровой микроскоп TECHKON  SpectroPlate может использоваться для измерения параметров аналоговых и CTP-пластин, а также пленок и печатных оттисков.

Измерения: визуальный контроль на встроенном LCD-дисплее и на экране PC, относительная площадь растровой точки, линеатура и угол наклона растра.

Инструмент применяется для измерения результатов всех видов растрирования — FM, AM и гибридного. Использование освещения широкого спектра позволяет работать со всеми видами пластин.

Точность измерений нового прибора обеспечивается качественной оптической системой и совершенными вычислительными алгоритмами, изображение захватывается цветной CMOS-матрицей с разрешением 1024x1024 пикселя и большим динамическим диапазоном, вычисления осуществляются встроенным микропроцессором.

ПЗС: 1024х1024 пикселя, 16 млн цветов RGB, без компрессии

  • Апертура: 1х1 мм, сканирование изображения в реальном времени;
  • Источник света: светодиод белого света;
  • Время измерения: 1 секунда;
  • Калибровка: предустановленная фабричная калибровка по шкале FOGRA (FMB), керамический стандарт белого в комплекте;
  • Измеряемая площадь: 0,0–100,0 %;
  • Измеряемая линеатура:
    • АМ: 30–150 л/см, 75–380 lpi;
    • FM: 10–70 микрон;
  • Повторяемость: ± 0,5 %;
  • Дисплей: монохромный высококонтрастный LCD-дисплей, разрешение 240х160 пикселей, 16 градаций серого;
  • Встроенная память: до 100 измерений (только в версии Expert);
  • Источник энергии: Ni-MH аккумуляторная батарея, рассчитана на 10 000 автономных измерений;
  • Интерфейс: USB;
  • Совместимость ПО: Microsoft Windows 2000 / XP;
  • Вес: 530 г;

В комплекте: блок питания с зарядной консолью, USB-кабель, ПО SpectroPlate Connect.

SpectroPlate Start



Характеристики:
площадь растровой точки;
линеатура;
угол наклона растра;
разовые измерения.


SpectroPlate Expert

Характеристики:
площадь растровой точки с построением кривой растискивания;
геометрический анализ;
линеатура;
угол наклона растра;
память до 100 измерений.

SpectroPlate All-Vision

Характеристики:
измерения параметров всех не зависящих от химии пластин, включая беспроцессорные (!);
площадь растровой точки с построением кривой растискивания;
геометрический анализ;
линеатура;
угол наклона растра;
память до 100 измерений.

Существуют три возможных вида апгрейда оборудования: SpectroPlate Start до SpectroPlate Expert, SpectroPlate Expert до SpectroPlate All-Vision, SpectroPlate Start до SpectroPlate All-Vision.